专利名称：一种电控光取样系统及太赫兹时域光谱仪专利类型：发明专利
发明人：彭世昌,潘奕,李辰,丁庆申请号：CN201610814526.2申请日：20160909公开号：CN106289528A公开日：20170104
摘要：本发明适用于太赫兹技术领域，提供一种电控光取样系统及太赫兹时域光谱仪，其中，电控光取样系统包括第一激光模块、第二激光模块、第一分束器、第二分束器、第一光电传感器、第二光电传感器、相位探测器、加法器和函数发生器，其中，第一激光模块包括压电传感器；第一分束器通过光纤与第一激光模块连接，第二分束器通过光纤与第二激光模块连接，第一光电传感器和第二光电传感器均与相位探测器连接，相位探测器和函数发生器均与加法器连接，加法器与压电传感器连接。本发明通过采用电控光取样系统来实现时域扫描，并采用光纤取代传统的自由空间来传输光信号，提高了扫描速度、保证了光束传播的稳定性。
申请人：深圳市太赫兹系统设备有限公司,华讯方舟科技有限公司
地址：518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区37栋2楼东
国籍：CN
代理机构：深圳中一专利商标事务所
代理人：张全文
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