专利名称：集成电路的操作特性的预测方法与装置专利类型：发明专利发明人：李翊,李小静,刘淼申请号：CN201910921170.6申请日：20190927公开号：CN110632501A公开日：20191231
摘要：一种集成电路的操作特性的预测方法，包括下列步骤。提供集成电路设计上所使用的多个单元。通过测试模型，对单元分别进行电压频率扫描测试，以产生多个参数，其中所述多个参数与电压值相对应。依据所述多个参数，建立查找表。取得集成电路设计上对应的时序分析签核。依据时序分析签核与查找表中的参数，对集成电路的多个时序路径进行时序分析，以取得关键时序路径，并以该关键时序路径预测集成电路的操作特性。
申请人：上海兆芯集成电路有限公司
地址：201203 上海市张江高科技园区金科路2537号301室
国籍：CN
代理机构：北京市柳沈律师事务所
代理人：李芳华
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